Ana gezinime geç Aramaya geç Ana içeriğe geç

Characterization of time-based degradation effects and machine learning-based modeling of hot carrier injection in 40 NM CMOS transistors

Öğrenci tezi: Yüksek Lisans Tezi

Ödül Tarihi2021
Orijinal dilİngilizce
DanışmanMustafa Berke Yelten (Danışman)

Alıntı Yap

'