Total Ionizing Dose (TID) Impact on Basic Amplifier Stages

Sadik Ilik, Mustafa Berke Yelten*

*Bu çalışma için yazışmadan sorumlu yazar

Araştırma sonucu: ???type-name???Makalebilirkişi

1 Atıf (Scopus)

Özet

This paper discusses the impact of total ionizing dose (TID) on basic amplifier stages that are biased right above the device threshold voltages. Existing TID degradation-aware transistor models have been leveraged in circuit simulations. The simulation methodology is developed to account for operating currents comparable to TID-induced leakage currents. It is shown that depending on the TID level, a DC input voltage level can be found for which performance characteristics such as the voltage gain can be retained to be similar in pre- and post-irradiation conditions.

Orijinal dilİngilizce
Sayfa (başlangıç-bitiş)51-57
Sayfa sayısı7
DergiIEEE Transactions on Device and Materials Reliability
Hacim23
Basın numarası1
DOI'lar
Yayın durumuYayınlandı - 1 Mar 2023

Bibliyografik not

Publisher Copyright:
© 2001-2011 IEEE.

Parmak izi

Total Ionizing Dose (TID) Impact on Basic Amplifier Stages' araştırma başlıklarına git. Birlikte benzersiz bir parmak izi oluştururlar.

Alıntı Yap