Parmak izi
The impact of trench geometry and processing on the performance and reliability of low voltage power UMOSFETs' araştırma başlıklarına git. Birlikte benzersiz bir parmak izi oluştururlar.- Sıralama ölçütü
- Ağırlık
- Alfabetik sıralama
The impact of trench geometry and processing on the performance and reliability of low voltage power UMOSFETs
S. A. Suliman, N. Gallogunta, L. Trabzon, J. Hao, G. Dolny, R. Ridley, T. Grebs, J. Benjamin, C. Kocon, J. Zeng, C. M. Knoedler, M. Horn, O. O. Awadelkarim, S. J. Fonash, J. Ruzyllo
Araştırma sonucu: ???type-name??? › Konferans katkısı › bilirkişi
6
Atıf (Scopus)