Novel single shot scheme to measure submillimeter electron bunch lengths using electro-optic technique

T. Srinivasan-Rao*, M. Amin, V. Castillo, D. M. Lazarus, D. Nikas, C. Ozben, Y. K. Semertzidis, A. Stillman, T. Tsang, L. Kowalski

*Bu çalışma için yazışmadan sorumlu yazar

Araştırma sonucu: ???type-name???Makalebilirkişi

15 Atıf (Scopus)

Parmak izi

Novel single shot scheme to measure submillimeter electron bunch lengths using electro-optic technique' araştırma başlıklarına git. Birlikte benzersiz bir parmak izi oluştururlar.

Keyphrases

Physics