High-sensitivity noncontact atomic force microscope/scanning tunneling microscope (ne AFM/STM) operating at subangstrom oscillation amplitudes for atomic resolution imaging and force spectroscopy

A. Oral*, R. A. Grimble, H. Ö Özer, J. B. Pethica

*Bu çalışma için yazışmadan sorumlu yazar

Araştırma sonucu: ???type-name???Makalebilirkişi

43 Atıf (Scopus)

Özet

A highly sensitive noncontact atomic force microscope/scanning tunneling microscope (STM) operating in ultrahigh vacuum (UHV) with subangstrom oscillation amplitudes for atomic resolution imaging and force-distance spectroscopy was described. A novel fiber interferometer with very low noise levels was employed to detect cantilever displacements. The subangstrom oscillation amplitudes allow the force-distance measurements which reveal very short range force interactions.

Orijinal dilİngilizce
Sayfa (başlangıç-bitiş)3656-3663
Sayfa sayısı8
DergiReview of Scientific Instruments
Hacim74
Basın numarası8
DOI'lar
Yayın durumuYayınlandı - Ağu 2003
Harici olarak yayınlandıEvet

Parmak izi

High-sensitivity noncontact atomic force microscope/scanning tunneling microscope (ne AFM/STM) operating at subangstrom oscillation amplitudes for atomic resolution imaging and force spectroscopy' araştırma başlıklarına git. Birlikte benzersiz bir parmak izi oluştururlar.

Alıntı Yap