Ana gezinime geç Aramaya geç Ana içeriğe geç

Dielectric relaxation in ferroelectric TlInS2 layered crystals within metastable chaotic state

  • E. Şentürk*
  • , L. Tümbek
  • , F. A. Mikailov
  • , F. Salehli
  • *Bu çalışma için yazışmadan sorumlu yazar
  • Sakarya University
  • Gebze Technical University

Araştırma çıktısı: Dergi yayınıMakaleHakem

9 Atıf (Scopus)

Özet

The results of investigations low frequency dielectric relaxation in layered ferroelectric TlInS2 crystals are presented. The measurements were performed in the temperature range of 180-230 K and in the frequency range of 5 kHz-1 MHz. Two different relaxation processes were observed in mentioned temperature interval. The crystal has "slow" and "fast" relaxation mechanisms in low and high frequency region, respectively. The presence of two different relaxation mechanisms in TlInS2 is discussed.

Orijinal dilİngilizce
Sayfa (başlangıç-bitiş)626-630
Sayfa sayısı5
DergiCrystal Research and Technology
Hacim42
Basın numarası6
DOI'lar
Yayın durumuYayınlandı - Haz 2007

Parmak izi

Dielectric relaxation in ferroelectric TlInS2 layered crystals within metastable chaotic state' araştırma başlıklarına git. Birlikte benzersiz bir parmak izi oluştururlar.

Alıntı Yap