Ana gezinime geç Aramaya geç Ana içeriğe geç

Annealed SMC samplers for Dirichlet process mixture models

  • Yener Ulker*
  • , Bilge Gunsel
  • , Ali Taylan Cemgil
  • *Bu çalışma için yazışmadan sorumlu yazar
  • Istanbul Technical University
  • Bogazici University

Araştırma çıktısı: Kitap/Rapor/Konferans Bildirisinde BölümKonferans katkısıHakem

1 Atıf (Scopus)

Özet

In this work we propose a novel algorithm that approximates sequentially the Dirichlet Process Mixtures (DPM) model posterior. The proposed method takes advantage of the Sequential Monte Carlo (SMC) samplers framework to design an effective annealing procedure that prevents the algorithm to get trapped in a local mode. We evaluate the performance in a Bayesian density estimation problem with unknown number of components. The simulation results suggest that the proposed algorithm represents the target posterior much more accurately and provides significantly smaller Monte Carlo error when compared to particle filtering.

Orijinal dilİngilizce
Ana bilgisayar yayını başlığıProceedings - 2010 20th International Conference on Pattern Recognition, ICPR 2010
YayınlayanInstitute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
Sayfalar2808-2811
Sayfa sayısı4
ISBN (Basılı)9780769541099
DOI'lar
Yayın durumuYayınlandı - 2010

Yayın serisi

AdıProceedings - International Conference on Pattern Recognition
ISSN (Basılı)1051-4651

Parmak izi

Annealed SMC samplers for Dirichlet process mixture models' araştırma başlıklarına git. Birlikte benzersiz bir parmak izi oluştururlar.

Alıntı Yap