Metal-Oksit-Yarıiletken-Alan-Etkili-Transistörlerinde (MOSFET'lerde) Kriyojenik Sıcaklık, Işınım, Zamana Bağlı Yıpranma ve Proses Değişkenliği Etkilerinin Kapsamlı Modellenmesi

Proje: BAP

Kısa başlık	Metal-Oksit-Yarıiletken-Alan-Etkili-Transistörlerinde (MOSFET'lerde) Kriyojenik Sıcaklık, Işınım, Zamana Bağlı Yıpranma ve Proses Değişkenliği Etkilerinin Kapsamlı Modellenmesi
Durum	Sona erdi
Geçerli başlangıç/bitiş tarihi	28/04/16 → 27/07/17

Proje Ayrıntıları