Proje Ayrıntıları
Kısa başlık | Experimental Determination of Gate-Oxide Breakdown of CMOS Transistors at Cryogenic Temperatures |
---|---|
Durum | Sona erdi |
Geçerli başlangıç/bitiş tarihi | 8/06/20 → 8/06/21 |
Proje: BAP
Kısa başlık | Experimental Determination of Gate-Oxide Breakdown of CMOS Transistors at Cryogenic Temperatures |
---|---|
Durum | Sona erdi |
Geçerli başlangıç/bitiş tarihi | 8/06/20 → 8/06/21 |