Measurement of the SMC muon beam polarization using the asymmetry in the elastic scattering off polarized electrons

D. Adams*, B. Adeva, T. Akdogan, E. Arik, A. Arvidson, B. Badelek, G. Bardin, G. Baum, P. Berglund, L. Betev, R. Birsa, P. Björkholm, B. E. Bonner, N. de Botton, M. Boutemeur, F. Bradamante, A. Bravar, A. Bressan, S. Bültmann, E. BurtinC. Cavata, M. Clocchiatti, D. Crabb, J. Cranshaw, T. Çuhadar, S. Dalla Torre, R. van Dantzig, B. Derro, A. Deshpande, S. Dhawan, C. Dulya, A. Dyring, S. Eichblatt, J. C. Faivre, D. Fasching, F. Feinstein, C. Fernandez, S. Forthmann, B. Frois, A. Gallas, J. A. Garzon, L. Gatignon, T. Gaussiran, H. Gilly, M. Giorgi, E. von Goeler, S. Goertz, I. A. Golutvin, G. Gracia, N. de Groot, M. Grosse Perdekamp, K. Haft, D. von Harrach, T. Hasegawa, P. Hautle, N. Hayashi, C. A. Heusch, N. Horikawa, V. W. Hughes, G. Igo, S. Ishimoto, T. Iwata, E. M. Kabub, T. Kageya, A. Karev, H. J. Kessler, T. J. Ketel, J. Kiryluk, I. Kiryushin, A. Kishi, Yu Kisselev, L. Klostermann, D. Kramer, V. Krivokhijine, W. Kroger, V. Kukhtin, K. Kurek, J. Kyynäräinen, M. Lamanna, U. Landgra, J. M. Le Goff, F. Lehar, A. de Lesquen, J. Lichtenstadt, T. Lindqvist, M. Litmaath, M. Lowe, A. Magnon, G. K. Mallot, F. Marie, A. Martin, J. Martino, T. Matsuda, B. Mayes, J. S. McCarthy, K. Medved, W. Meyer, G. van Middelkoop, D. Miller, Y. Miyachi, K. Mori, J. Moromisato, A. Nagaitsev, J. Nassalski, L. Naumann, T. O. Niinikoski, J. E.J. Oberski, A. Ogawa, C. Ozben, H. Pereira, F. Perrot-Kunne, D. Peshekhonov, R. Piegaia, L. Pinsky, S. Platchkov, M. Plo, D. Pose, H. Postman, J. Pretz, T. Pussieux, G. Rädel, A. Rijllart, G. Reicherz, J. B. Roberts, S. Rock, M. Rodriguez, E. Rondio, L. Ropelewski, I. Sabo, J. Saborido, A. Sandacz, I. Savin, P. Schiavon, A. Schiller, K. P. Schüler, R. Seitz, Y. Semertzidis, S. Sergeev, P. Shanahan, E. P. Sichtermann, F. Simeoni, G. I. Smirnov, A. Staude, A. Steinmetz, U. Stiegler, H. Stuhrmann, M. Szleper, F. Tessarotto, D. Thers, W. Tlaczala, A. Tripet, G. Unel, M. Velasco, J. Vog, R. Voss, C. Whitten, R. Windmolders, R. Willumeit, W. Wislicki, A. Witzmann, K. Zaremba, N. I. Zamiatin, J. Zhao

*Corresponding author for this work

Research output: Contribution to journalArticlepeer-review

11 Citations (Scopus)

Fingerprint

Dive into the research topics of 'Measurement of the SMC muon beam polarization using the asymmetry in the elastic scattering off polarized electrons'. Together they form a unique fingerprint.

Keyphrases

Physics