Project Details
Short title | Metal-Oksit-Yarıiletken-Alan-Etkili-Transistörlerinde (MOSFET'lerde) Kriyojenik Sıcaklık, Işınım, Zamana Bağlı Yıpranma ve Proses Değişkenliği Etkilerinin Kapsamlı Modellenmesi |
---|---|
Status | Finished |
Effective start/end date | 28/04/16 → 27/07/17 |